Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783639662498

Книга ISBN13 9783639662498 - 1/f Noise Measurement System & Studies on Thin Films of CdO and Ag (S. Victor Vedanayakam and D. Punyaseshudu) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: 1/f Noise Measurement System & Studies on Thin Films of CdO and Ag
1/f noise plays an important role in choosing frequency band in which a device can be effectively used. As 1/f noise is from the fluctuations of microscopic entities, it can act as a probe of what is happening physically at the microscopic scale. This noise limits the sensitivity and stability of many radio electronic devices, the requirements to which are enhancing constantly. 1/f noise a valuable informative parameter for evaluating the quality of materials and reliability of devices containing thin films and integrated micro chips. The existing method of 1/f noise measurement is a cumbersome in choosing each item individually. A lot of care has to be taken to match the impedance of individual units and the throughput accuracy will be at stake. An attempt is made to integrate all the parts in a compact system, which is versatile, sensitive enough resulting in an improved experimental technique.This book explains different theories regarding 1/f noise, discusses the theoretical...
Авторы: S. Victor Vedanayakam and D. Punyaseshudu
Издательство: Scholars' Press
Год: 2014
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783639662498


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.