Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783639700503
На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Книга ISBN13 9783639700503 - Reliability Study Of Ingap/gaas Heterojunction Bipolar Transistors (Xiang Liu) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением
Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Где купить эту книгу?
Интернет-магазиныНазвание: Reliability Study Of Ingap/gaas Heterojunction Bipolar Transistors
Nowadays InGaP/GaAs heterojunction bipolar transistors (HBTs) are the preferred technology of high-performance microwave monolithic integrated circuits (MMICs) due to their inherently excellent characteristics. With the smaller dimensions for improving functionality of InGaP/GaAs HBTs, which dissipate large amount of power and result in heat flux accumulated in the device junction, reliability issues are the first concern for the commercialization. To identify the origins of the electrothermal stress-induced device performance degradations observed experimentally, 2-D TCAD simulations were carried out. Using this approach, it is suggested that the acceptor-type trapping states located in the emitter bulk are responsible for the post-stress base current instability. The performances of InGaP/GaAs HBT-based MMICs are sensitive to the variation of core device characteristics. However, detection of this critical issue is difficult due to the circuit complexity. Thus, a practical...
Авторы: Xiang Liu
Издательство: Scholars' Press
Год: 2013
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783639700503
Поиск по сайту
Новости
10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.
2015 - books.kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net