Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659001987

Книга ISBN13 9783659001987 - Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition (Cheng-Chung Lee,Kai Wu and Tzu-Ling Ni) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Optical Admittance Loci Monitoring for Thin Film Deposition
To deposit a thin film coating with the correct thickness and refractive index is very important for precision optics. There are several methods have been proposed to monitoring the thickness of each layer for a multilayer optical filter during the coating process. Among those methods, the optical monitoring is generally thought better than other methods to manufacture optical filters, because it has error compensations which cannot be provided in other monitor methods. For the manufacture of some delicate optical filters with the high defect rate, the optical monitor with higher monitoring precision and better error compensation ability is necessary. Several optical monitoring methods have been reviewed, and novel monitoring techniques have been introduced for precision optical coatings.
Авторы: Cheng-Chung Lee,Kai Wu and Tzu-Ling Ni
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2012
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659001987


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.