Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659124976

Книга ISBN13 9783659124976 - Test and Reliability of SRAM Memories (Renan Fonseca) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Test and Reliability of SRAM Memories
This book considers the following problems in the domain of test and reliability of SRAM memories: optimizing test flow using stress conditions; statistical simulation for very low probabilities; variability analysis of an SRAM test-chip; fault tolerance in random addressed memories. Although the problems considered are all related to SRAM, some solutions found may also be applied in other domains. The Monte-carlo based simulation method described here is a general purpose method. The fault tolerance technique proposed can be used in different kind of memories, and its mathematical formulation can also be applied in other domains like logic synthesis for example. The methodology proposed to optimally set stress conditions during SRAM test can be adapted to any kind of circuit. The author covers SRAM problems and proposes innovative solutions that can be applied or adapted to different contexts.
Авторы: Renan Fonseca
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2012
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659124976


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.