Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659165603
На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Книга ISBN13 9783659165603 - In situ testing of thin-film multi junction photovoltaic degradation (Gyorgy Szentannai) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением
Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Где купить эту книгу?
Интернет-магазиныНазвание: In situ testing of thin-film multi junction photovoltaic degradation
Crystalline silicon photovoltaics (“PV”) have higher efficiency than amorphous thin film PV. On the other hand amorphous silicon PV has many advantages: cheaper production (1/1000 less raw material used in manufacture); much lower manufacturing temperature (200 °C/800-1000 °C), much shorter environmental pay-back time in the sense of investigated and gathered CO2 emission; and significant efficiency advantages on cloudy days. There are intensive research and development efforts to understand the Stabler-Wronsky effect (which was first reported more than 40 years ago) more accurately in order to better exploit the advantages of amorphous silicon PV. These advantages force producers to develop different types, in different combinations, such as multi-junction PVs. It is important for implementing companies and consumers to know the real degradation time and percentage in practice, rather than just under laboratory conditions. The real performance and degradation of newly implemented...
Авторы: Gyorgy Szentannai
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2012
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659165603
Поиск по сайту
Новости
10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.
2015 - books.kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net