Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659239724
На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Книга ISBN13 9783659239724 - Multiscale process monitoring in Nanomanufacturing (Sihem Ben Zakour) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением
Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Где купить эту книгу?
Интернет-магазиныНазвание: Multiscale process monitoring in Nanomanufacturing
The detection of the end of polishing during the chemical mechanical planarization (CMP) process is a critical task in semiconductor manufacturing. Even the research in CMP has grown and developed, one cannot predict the End point detection in order to avoid over or underpolishing wafer. The disadvantages of offline approach in endpoint detection have incited the researchers to discover an efficient substitute. In this Master thesis, an alternative approach named online method has been presented in which a sequential probability ratio test (SPRT) was developed and applied to the wavelet decomposed Acoustic emission data collected during the progression of the CMP process. Two dispersion parameters were used to detect endpoint, the first one standard deviation and the second the coefficient of variation. This test is shown to be efficient in controlling complex processes and appropriated for real-time application by developing a moving block strategy. This book is useful in...
Авторы: Sihem Ben Zakour
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2012
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659239724
Поиск по сайту
Новости
10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.
2015 - books.kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net