Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659258299
На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Книга ISBN13 9783659258299 - SEM, EDAX & AFM study of ZnTe films deposited using SILAR method (Jignesh Rathod) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением
Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Где купить эту книгу?
Интернет-магазиныНазвание: SEM, EDAX & AFM study of ZnTe films deposited using SILAR method
In present book, AFM has been used to measure surface morphology. For microanalysis the scanning electron microscope (SEM) has been used. The scanning electron microscope (SEM), which is closely related to the electron probe, is designed primarily for producing electron images, but can also be used for elements mapping, and even point analysis.Scanning electron microscopes which are equipped with EDS (Energy Dispersed Spectroscopy) or EDAX (Energy-Dispersed Analysis of X-rays) detectors that capture the emitted X-ray is used for elemental analysis. The results, analysis and conclusions of ZnTe thin films deposited by SILAR method at various thicknesses and annealing temperatures have been carried out in detail and are presented in this book.
Авторы: Jignesh Rathod
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2014
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659258299
Поиск по сайту
Новости
10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.
2015 - books.kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net