Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659273919

Книга ISBN13 9783659273919 - Impact of Leakage Power Reduction Techniques on Parametric Yield (Sudip Roy and Ajit Pal) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Impact of Leakage Power Reduction Techniques on Parametric Yield
With the advancement of process technology for fabrication of integrated circuits, the magnitude of variations in process parameters have increased and the parametric yield loss problem has become a serious concern of the fabrication houses. Thus, the traditional techniques for power and delay optimization in design automation tools can no longer be used effectively. This has opened up a challenge to the chip designers to design integrated circuits, which are variation tolerant and thereby having higher parametric yield. In this monograph, a single threshold voltage based approach is proposed that exhibits runtime leakage power reduction comparable to the existing dual threshold voltage assignment approaches and at the same time the proposed approach is less sensitive to process parameter variations. Again, this logic-level runtime leakage reduction technique is combined with multiple supply voltage assignment during high-level synthesis for total power reduction. It is believed that...
Авторы: Sudip Roy and Ajit Pal
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2013
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659273919


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.