Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659308208

Книга ISBN13 9783659308208 - On-Chip Time-Domain Metrology in Submicron CMOS (Chin-Hsin Lin) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: On-Chip Time-Domain Metrology in Submicron CMOS
As the complexity and operational speed of today's Systems-on-Chip increase, measuring and characterizing SoC’s building blocks are becoming more challenging. Embedded measuring techniques for system characterization, such as built-in self-test, are therefore becoming necessities. A Time-to-Digital Converter (TDC) is a device that has been widely used to measure the time intervals between two signal edges. The measurement resolution of a simple TDC architecture is limited by the minimum gate delay in the IC fabrication process. When the required time measurement resolution is smaller than the minimum gate delay, many TDC architectures include Time Difference Amplifiers (TDA) to pre-amplify the very short input time intervals. However, the gain of the TDA is usually sensitive to process, voltage, and temperature variations. This work researches techniques on improving measurement characteristic of TDCs and demonstrates a single-stage Vernier TDC with a constant gain TDA. The final...
Авторы: Chin-Hsin Lin
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2012
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659308208


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.