Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659383632

Книга ISBN13 9783659383632 - Testing Methods For Fault Detection In Electronic Circuits (Rania F. Ahmed,Ahmed M. Soliman and Ahmed G. Radwan) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Testing Methods For Fault Detection In Electronic Circuits
This book includes two testing methodologies based on Built In Sensors (BIS) and an optimization-based technique. The first part proposes two novel built-in sensors (BISs) for digital CMOS and analog circuits testing. The BISs have no voltage degradation, able to detect, identify and localize open and short circuit faults,have simple realizations with very small area and detection time. BIS is used to test a 4x4 multiplier cell where all injected faults are detected and localized. The other BIS is dedicated to test analog circuits. It is applied to test two well-known analog building blocks; the Current Feedback Operational Amplifier (CFOA) and the Operational Transresistance Amplifier (OTRA).The proposed BIS tests on the terminal characteristics of the analog blocks. Simulations are made to test CFOA-based universal analog filter and an OTRA-based universal filter. The second part proposes a testing algorithm to detect single and double parametric faults in analog circuit by...
Авторы: Rania F. Ahmed,Ahmed M. Soliman and Ahmed G. Radwan
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2014
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659383632


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.