Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659488351

Книга ISBN13 9783659488351 - High-Speed Probe Card Analysis (Bonghun Shin) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: High-Speed Probe Card Analysis
Probe cards represent an indispensable component in wafer testing processes. Due to their frequent contacts with wafer pads, the physical condition of probe cards needs to be closely monitored and analyzed to maintain the integrity of testing. This paper proposes a new vision-based probe card analysis technique that can be applied to a situation where the vision system is continuously running to take moving images for fast inspection. The approach taken in this paper is to operate the machine vision in time synchrony with the position sensing and to restore the blurred pixel data with the image restoration technique. The main concepts are demonstrated using an experimental test bed and a commercial probe card. Compared to the existing stop-and-go approach, the proposed technique can substantially enhance the inspection speed without additional cost for major hardware change.
Авторы: Bonghun Shin
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2013
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659488351


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.