Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659505188

Книга ISBN13 9783659505188 - Pulsed capacitance technique for evaluation of barrier structures (Eugenijus Gaubas,Tomas Ceponis and Juozas-Vidmantis Vaitkus) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Pulsed capacitance technique for evaluation of barrier structures
Traditional semiconductor device characterization techniques based on capacitance measurements using a small test signal, the different modifications of deep level transient spectroscopy etc. are limited if devices contain a large density of deep traps, exhibiting enhanced generation currents. In this book, a pulsed capacitance technique for barrier evaluation by linearly increasing voltage (BELIV) is presented. The basics of analysis of the current transients for reverse and forward biased junctions are described. The measurement schemes and regimes for profiling of dopant distribution, for thermo-emission and photo-ionization spectroscopy of traps, for the in situ control of radiation damage of particle detectors are discussed. Applications of this BELIV technique for characterization of multi-layered structures of homo- and hetero- junctions formed in fabrication of diode, particle detector, thyristor and solar-cell devices are demonstrated. The BELIV technique is shown to be a...
Авторы: Eugenijus Gaubas,Tomas Ceponis and Juozas-Vidmantis Vaitkus
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2013
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659505188


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.