Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783659628436

Книга ISBN13 9783659628436 - Electron Beam Induced Mass Loss of Sensitive Materials (Veronika Novotna) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Electron Beam Induced Mass Loss of Sensitive Materials
The low voltage STEM is a very interesting but not well known method with great potential for examination of sensitive materials. This book is focused on the mass loss of the material caused by the electron beam in this microscope. The analysed materials were pure embedding media (Epon, Spurr, LR White) and biological sample - Euglena gracilis embedded in them. The samples of different thicknesses were examined using different microscope settings (acceleration voltage, total dose, probe current, plasma cleaning) and the STEM imaging modes (bright-field, dark-field). Collected images, created algorithms and obtained results are widely discussed and supported by graphs and tables. A suggestion of an ideal experiment according to the measured data is presented. A description of physical principles of the TEM, the SEM and the STEM and their suitability for observation of samples sensitive to electrons is presented in the book. The interaction between the electron beam and the sample is...
Авторы: Veronika Novotna
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2014
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783659628436


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.