Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783843388016

Книга ISBN13 9783843388016 - DFT+DFD: An Integrated Method for Design for Testability and Diagnosis (Nikhil Rahagude and Dr. Michael Hsiao) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: DFT+DFD: An Integrated Method for Design for Testability and Diagnosis
While conventional test point insertions commonly used in design for testability can improve fault coverage, the test points selected may not necessarily be the best candidates to aid silicon diagnosis. This book targets test point insertions to detect more faults as well as to distinguish currently indistinguishable fault-pairs. This is achieved by identifying those points in the circuit, which are not only hard-to-test but also lie on distinguishable frontiers, as Testability-Diagnosability (TD) points. To this end, a novel low-cost metric to identify such TD points is proposed. Further, a new DFT + DFD architecture is developed, which adds just one pin (to identify test/functional mode) and small additional combinational logic to the circuit under test. In the other part, improving diagnosis in BIST environment is targeted. To facilitate diagnosis, researchers have proposed the use of two additional on-chip embedded memories, response memory to store reference responses and fail...
Авторы: Nikhil Rahagude and Dr. Michael Hsiao
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2011
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783843388016


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.