Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783844332636

Книга ISBN13 9783844332636 - An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits (Jahanzeb Anwer,Nor Hisham Bin Hamid and Vijanth Sagayan Asirvadam) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: An Improved Markov Random Field Design Approach For Digital Circuits
As the MOSFET dimensions scale down to nanoscale level, the reliability of circuits based on these devices decreases. Therefore, a mechanism has to be devised that can make the nanoscale systems perform reliably using unreliable circuit components. The solution is fault-tolerant circuit design. Markov Random Field (MRF) is an effective approach that achieves fault-tolerance in integrated circuit design. The previous research on this technique suffers from limitations at the design, simulation and implementation levels. As improvements, the MRF fault-tolerance rules have been validated for a practical circuit example. The simulation framework is extended from thermal to a combination of thermal and random telegraph signal noise sources to provide a more rigorous noise environment for the simulation of nanoscale circuits. Moreover, an architecture-level improvement has been proposed in the design of previous MRF gates. The re-designed MRF is termed as Improved-MRF. By...
Авторы: Jahanzeb Anwer,Nor Hisham Bin Hamid and Vijanth Sagayan Asirvadam
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2011
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783844332636


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.