Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783845420318
На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Книга ISBN13 9783845420318 - Analysis and characterization of the system Si nanocluster/SiOx (Giuseppe Nicotra) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением
Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.
Где купить эту книгу?
Интернет-магазиныНазвание: Analysis and characterization of the system Si nanocluster/SiOx
This book reviews the subject of Si quantum dots embedded in dielectric andits application to the realization of non volatile semiconductor memories and optoelectronicdevices, this dialing various approaches for the analysis of the materialsthrough transmission electron microscopy (TEM). The advantages coming froman innovative application of energy filtered TEM (EFETM) are put in clear evidence. Themanuscript then focuses on the synthesis of the materials: three different methodologiesfor the realization of the dots based on chemical vapor deposition (CVD)and ion implantation are described in detail, and physical models providing someunderstanding of the observed phenomenology are reported as well.
Авторы: Giuseppe Nicotra
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2011
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783845420318
Поиск по сайту
Новости
10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.
2015 - books.kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net
e-mail: books@kartoteka.net