Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783846544334

Книга ISBN13 9783846544334 - Transistor-Level Defect-Tolerant Techniques for Reliable Design (Farhan Khan) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Transistor-Level Defect-Tolerant Techniques for Reliable Design
In this book, detailed investigation of a recently proposed transistor-level defect-tolerant technique for nanoelectronics is performed. The investigated technique replaces each transistor by an N^2-transistor structure (N=2,3…,k) and guarantees defect tolerance of all permanent defects of multiplicity ? (N-1) in each transistor structure. The theoretical and experimental analysis for the defect tolerance of stuck-open and stuck-short defects for quadded transistor structure i.e.,(N=2) is extended for the nona transistor structure i.e.,(N=3). Comparison of defect tolerance of transistor structures (N=2,3) against other techniques like Triple Intervowen Redundancy (TIR) and Quadded Logic (QL) is carried out experimentally. It is shown that the combinations of defect tolerance at both the transistor level and gate level have significantly improved circuit defect tolerance. For this, combination of Triple Modular Redundancy (TMR) with majority gate implemented with N^2-transistor...
Авторы: Farhan Khan
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2012
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783846544334


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.