Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9783846584545

Книга ISBN13 9783846584545 - Impact of Dynamic Voltage Scaling on Nano-Scale Circuit Optimization (Carlos Esquit and Jiang Hu) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Impact of Dynamic Voltage Scaling on Nano-Scale Circuit Optimization
Circuit designers perform optimization procedures targeting speed and power. Gate sizing can be applied to optimize for speed, while Dual-VT and Dynamic Voltage Scaling (DVS) can be applied to optimize for leakage and dynamic power, respectively. Both gate sizing and Dual-VT are design-time techniques applied to the circuit at a fixed voltage. DVS is a run-time technique and implies that the circuit will be operating at a different voltage than that used during optimization at design-time. After some analysis, the risk of non-critical paths becoming critical paths at run-time is detected under these circumstances. The following questions arise: 1) should we take DVS into account during optimization? 2) Does DVS impose any restrictions to design-time circuit optimizations? This is a case study of applying DVS to a circuit that has been optimized for speed and power, and aims at answering the previous two questions. We used a 45-nm CMOS design kit and flow for ISCAS’85...
Авторы: Carlos Esquit and Jiang Hu
Издательство: LAP Lambert Academic Publishing
Год: 2012
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 9783846584545


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.