Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9785510712100

Книга ISBN13 9785510712100 - Focused ion beam (Jesse Russel) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Focused ion beam
High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Focused ion beam, also known as FIB, is a technique used particularly in the semiconductor industry, materials science and increasingly in the biological field for site-specific analysis, deposition, and ablation of materials. An FIB setup is a scientific instrument that resembles a scanning electron microscope (SEM). However, while the SEM uses a focused beam of electrons to image the sample in the chamber, an FIB setup uses a focused beam of ions instead. FIB can also be incorporated in a system with both electron and ion beam columns, allowing the same feature to be investigated using either of the beams. FIB should not be confused with using a beam of focused ions for direct write lithography (such as in proton beam writing). These are generally quite different systems where the material is modified by other mechanisms. Данное издание представляет собой компиляцию сведений, находящихся в свободном доступе в среде Интернет в целом, и в...
Авторы: Jesse Russel
Издательство: Книга по Требованию
Год: 2012
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 978-5-5107-1210-0


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.