Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9785514750900

Книга ISBN13 9785514750900 - Secondary ion mass spectrometry (Jesse Russell) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Secondary ion mass spectrometry
High Quality Content by WIKIPEDIA articles! Secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a technique used in materials science and surface science to analyze the composition of solid surfaces and thin films by sputtering the surface of the specimen with a focused primary ion beam and collecting and analyzing ejected secondary ions. The mass/charge ratios of these secondary ions are measured with a mass spectrometer to determine the elemental, isotopic, or molecular composition of the surface to a depth of 1 to 2 nm. Due to the large variation in ionization probabilities among different materials, SIMS is generally considered to be a qualitative technique, although quantitation is possible with the use of standards. SIMS is the most sensitive surface analysis technique, with elemental detection limits ranging from parts per million to parts per billion. Данное издание представляет собой компиляцию сведений, находящихся в свободном доступе в среде Интернет в целом, и в информационном...
Авторы: Jesse Russell
Издательство: Книга по Требованию
Год: 2013
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 978-5-5147-5090-0


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.