Картотека книг

предварительная версия
Картотека книг » Поиск по коду » Книги с ISBN13 9785915222259

Книга ISBN13 9785915222259 - Фундаментальные основы анализа нанопленок (Альфорд, Терри Л., Фельдман, Леонард К., Майер, Джеймс В.) в магазинах, библиотеках и электронных библиотеках с он-лайн чтением

Информация о местонахождении книг с указанным кодом ISBN. (Найти нужный код ISBN10 или ISBN13 можно в техническом каталоге кодов.)

На странице указаны адреса интернет-магазинов и библиотек (обычных) в которых есть книга с данным кодом.

Где купить эту книгу?

Интернет-магазины

Название: Фундаментальные основы анализа нанопленок
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия...
Авторы: Алфорд Терри Л.
Издательство: Научный мир
Год: 2012
Местонахождение: My-shop.ru
ISBN: 978-5-91522-225-9
Название: Фундаментальные основы анализа нанопленок
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к...
Авторы: Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер
Издательство: Научный мир
Год: 2012
Местонахождение: OZON.ru
ISBN: 978-5-91522-225-9

Где читать эту книгу?

Российские библиотеки и не только

Название: Фундаментальные основы анализа нанопленок
Авторы: Алфорд Т.Л., Фельдман Л.К., Майерс Дж.В.
Издательство: Москва: Научный мир
Год: 2012
Местонахождение: Научная библиотека НИЯУ МИФИ
ISBN: 978-5-91522-225-9
Название: Фундаментальные основы анализа нанопленок : учебник
Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе. Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.
Авторы: Альфорд, Терри Л., Фельдман, Леонард К., Майер, Джеймс В.
Издательство: Москва: Научный мир
Год: 2012
Местонахождение: Центральная Научная Библиотека Красноярского Научного Центра СО РАН
ISBN: 978-5-91522-225-9
Название: Фундаментальные основы анализа нанопленок
Авторы: Альфорд, Терри Л., Фельдман, Леонард К., Майер, Джеймс В.
Издательство: М.: Науч. мир
Год: 2012
Местонахождение: Алтайская краевая универсальная научная библиотека им. В. Я. Шишкова
ISBN: 978-5-91522-225-9


Поиск по сайту


Новости

10 января 2015 года: Запуск базы ISBN10 и ISBN13

Запущена база данных ISBN и технический каталог кодов.